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    Name:Surface Area Analyzer

    Model:JW-BK222

    Introduction:

     

    分析方法

    比表面测定:    BET(单点、多点)比表面,Langmuir比表面,外表面测定;

    BJH孔径分布测定:    总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布;

    微孔常规分析:    微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&RMP等)

    真密度测定

    技术参数

    测试方法:低温真空氮吸附容量法,静态容量法
    原理方法:低温氮吸附,静态容量法

    吸附气体:高纯氮气,也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体

    极限真空:4×10-2Pa 3×10-4   Torr

    分压范围:4×10-5 – 0.995

    控制精度:测试压力点控制最小间隔可小于0.1 KPa 0.75  Torr)可测上千个点

    测试范围:0.01(M2/g)---无规定上限(比表面),0.35 - 500 nm(孔径)

    测试精度:重复性误差±1%
    压力测量:采用压力分段测量,进口双压力传感器显著提高P/P0点下测试精度,0--1000 torr(0--133kpa)
    样品数量:同时进行2个样品的分析和2个样品的脱气处理

    测试效率:双工作站,测试效率提高一倍,多点BET比表面测定,每样平均15min,孔径分析两个样品同时测试,效率也提高一倍
    液位控制:确保液氮面与样品管位置保持一致,消除因死体积变化导致的误差,连续10h不添加液氮

    理:两个样品同位处理,温度50-400±1

    数据采集:高精度双向数字采集模块,最强的灵活性完成最全面的数据采集,误差小,抗干扰能力强

    数据处理:标准的windows窗口界面,易理解、学习、操作,丰富的比表面和孔分析模型,图像分辨率高,易于维护,兼顾到系统后期扩展

    专用软件:BET(单点、多点)、LangmuirBJHt-PlotMPD-R

    质量认证:CE认证、中国计量研究院认证、中国科技部检测报告、国家新产品证书、GB/T 19001-2008质量管理体系认证证书

    仪器特点

    1双工作站,测试效率提高一倍,多点BET比表面测定,每样平均15min

    2国产比表面积及孔径分析仪唯一通过国家级技术鉴定产品,附产品鉴定证书
    3德国氦质谱检漏仪检测真空系统,确保每台仪器完美的高真空
    4自主知识产权的抽气与充气速度精密控制装置,保证测试点高达1000多点;
    5多途径液氮面控制校正技术,确保样品在冷阱中的深度及环境一致,消除因死体积变化导致的误差
    6具有独立,不易损坏的不锈钢杜瓦瓶,安全可靠,保温效果极佳
    7无需氦气降低测试成本(一瓶氦气2000元)   
    8完善的标准等温线数据库和规范的分析方法,BJHt-PlotMPD-R微孔常规测试技术国内领先
    9可编程控制电路,高精度双向数字采集模块,测试全程自动化、智能化,长时间运行可以无人职守附图:

    10可将分析结果实现叠加对比分析
    附图:
    1
    、双样品同时测试界面

    2.  BET比表面测试图

    3.   吸脱附等温曲线图

    4.   t-图

    5.   孔径微分分布和积分分布综合图

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