联系我们

电话:021-52821181
400电话:4006-005-039
邮箱:sell@jwgb.cn
Q Q: 471513427

    精微高博参加2010年国际展
    作者:abc    发布于:2011/8/18    浏览量:913
    本文由精微高博(上海)比表面积测定仪科技提供

           北京精微高博科学技术有限公司是中国专业生产、研发及销售比表面及孔径分析仪的最大厂家,其产品凭借高科技、高质量与高标准,叩开了国际市场的大门。2010年2月17日~2月19日,参加了国际纳米技术展览会(International Nanotechnology Exhibition and Conference);2010年3月3日~3月5日,在日本参加了国际充电电池博览会(International Rechargeable Battery Expo)。
         作为国产仪器厂商,精微高博公司展示了自主研发的高端分析型产品(JW-2324w和JW-2224)。JW系列比表面及孔径分析仪已达国际先进水平,测试范围广,重复性好,精确度高。
    JW-2324w比表面及孔隙率分析仪在以下三个方面都有突破性的改进:1. 微孔分析方面:P/Po在0—0.12之间的等温吸附曲线,不小于30个压力点;孔径范围在0.35—2nm之间的孔径累积分布、微分分布及最可几孔径;有特殊的双级真空系统;2. 结构与控制方面:压力点可任意设置,压力点数量无上限限制;平衡时间可自动判断与控制;气压升或降的速度控制精细、精确、平稳、可靠;液氮面高度可自动调节与补偿;具有Po值的测定与调节技术;3. 分析软件方面:包括BET, Langmuir ,BJH , D&R, T-Plote, MP, HK, SF等。
             JW324w和JW-2224型比表面及孔隙率分析仪是本类展品中的一大亮点,吸引了来自世界各地的客户前来展台参观咨询,展出质量很高,赢得了业界人士高度赞许。

    2010.2.17~2.19 nano tech 2010 2010.3.3~3.5 Battery Japan