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    参加2010中国科学仪器发展年会
    作者:abc    发布于:2011/8/23    浏览量:814
    本文由精微高博(上海)比表面积测定仪科技提供
          2010年4月9日,中国科学仪器行业目前最高级别的高峰论坛——“中国科学仪器发展年会”在京仪大酒店隆重举行。北京精微高博科技公司应邀参加了此次盛会。
            首先,科技部孙处长作了“十二五期间中国科学仪器发展的思考”的大会报告,指出了影响科学仪器发展存在的问题,并现场解读了“十二五”规划的实施将对中国科学仪器行业带来的影响。
    其次,知名仪器企业负责人高峰对话,盘点2009年、展望2010年热点应用市场,并就各自行业如何快速发展提出了许多真知灼见,尤其对跨国公司日益“本土化”的现实问题,提出了中国本土的科学仪器行业应采取的积极应对策略。
           最后,光谱、色谱、质谱三大技术发展论坛针对光谱、质谱、色谱三个领域的热点技术问题展开讨论,深入探讨了各类仪器技术的发展趋势。相对光谱、色谱、质谱应用领域来说,比表面及孔径分析仪全套系列产品,属物性测试仪器系列,目前虽然处于被广泛应用的前期,但本公司的高端精密型分析仪JW-BK2324比表面及孔径分析仪也很顺利入围了“2009年度优秀新产品”。
            中国科学仪器发展年会最后取得圆满成功,促进了中国科学仪器行业“政、产、学、研、用、资”等各方的有效交流,全面总结了中国科学仪器的最新进展,向各位参会代表呈现了最新的有关政策、最前沿的行业市场信息及最新的技术发展趋势。