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    参展CIBF 新款设备受青睐
    作者:abc    发布于:2011/8/23    浏览量:989
    本文由精微高博(上海)比表面积测定仪科技提供
        2010年6月24-26日,第九届中国国际电池技术交流会在深圳会展中心拉开帷幕,北京精微高博科学技术有限公司闪亮登场,并取得了圆满成功。JW动态和静态两大系列比表面及孔径测定仪受到新老电池材料客户的广泛关注与好评。
          公司最新产品JW-D400型高效能动态比表面积测定仪备受电池材料厂家的青睐,这是一款中国目前最先进的动态比表面积测定仪,智能化、精度高、速度快、性能稳,尤其适合于电池材料和小比表面材料的测定。